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奥林巴斯显微镜斜照明折光指数测定 |
发布时间:2018-08-13 15:48:35 | 浏览次数: |
奥林巴斯显微镜斜照明折光指数测定
斜照明有时用作贝克线测试以确定是否高于或低于周围的介质折射率的一个标本的替代方法。本互动教程将探讨如何标本和其周围介质的折射率的变化改变在显微镜下可见性时利用斜照明技术。 在试样较低折射率的介质中的装载位置的情况下,底纹从 anaxial 照明,结果将出现在方相反的光进入标本,反之亦然,如图 1 所示。在图 1 中给出了两个图表中,两个同等大小斜光线都被描绘进入通过周围的介质在同一入射角的标本。A在左边图上,光传播试样面积较大,比在点B的点,这样,附近的地区上的点A试样将出现比在B点附近的区域更暗。在这些情况下试样的一侧会出现阴影或比另一侧通过显微镜目镜查看时有点暗 (点表示的A'和B'在图 1 的左上部)。这是介质的案例,当样品折射率大于周围。 当试样具有较低的折射率比周围的介质时发生了相反的效果 (见图 1 的右侧)。在这种情况下,试样的阴影或较暗一侧将是最斜光部门停止的那一方。当试样和周围介质有完全相同的折射率时,标本将是透明的 (或不可见的) 然后会有对斜照明没有折射的影响。
该折射率测定技术的灵敏度是高度依赖于聚光镜焦距,可变光阑的位置,和扇区的几何停止(如果使用的话)。一般情况下,当聚光镜用心专注,甚至在照明领域内的实现得到最好的结果。 |